Morel, Eneas Nicolás, Laboratorio de Optoelcetrónica y Metrología Aplicada-Facultad Regional Delta-Universidad Tecnológica Nacional, Argentina
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Congreso Internacional de Metalurgia y Materiales - T19. Caracterización de materiales por métodos ópticos, acústicos y otros
MICROSCOPÍA ÓPTICA COHERENTE POR INTERFEROMETRÍA DE BAJA COHERENCIA DE UNA SOLA RAMA APLICADA A LA CARACTERIZACIÓN DE TOPOGRAFÍA DE SUPERFICIES
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