Torga, Jorge Román, Laboratorio de Optoelcetrónica y Metrología Aplicada-Facultad Regional Delta-Universidad Tecnológica Nacional, Argentina
-
Congreso Internacional de Metalurgia y Materiales - T19. Caracterización de materiales por métodos ópticos, acústicos y otros
MICROSCOPÍA ÓPTICA COHERENTE POR INTERFEROMETRÍA DE BAJA COHERENCIA DE UNA SOLA RAMA APLICADA A LA CARACTERIZACIÓN DE TOPOGRAFÍA DE SUPERFICIES
Resumen PDF