El uso seguro de Circuitos Integrados (CI) de nivel de calidad COTS (“Commercial of the Shelf”) en sistemas críticos tales como los aero-espaciales, es un desafío aún abierto a nivel mundial. Dentro de los numerosos objetivos pendientes en este contexto, la caracterización sistemática y automática, del comportamiento de los CI COTS bajo radiaciones ionizantes, sigue requiriendo  contribuciones al estado del arte.

En particular, los procesos de decapado o desencapsulado, y sus herramientas asociadas necesitan ser adaptados para tecnologías COTS [1]. En efecto, si bien existen procedimientos y herramientas que se utilizan para validar otros CI de niveles de calificación mayores, [2-4], su utilización en el campo de los COTS se vuelve inviable e incompatible, simplemente por una cuestión de desproporción en sus costos, y de los tiempos y las instalaciones necesarias para aplicarlos. Dicho en otros términos y de manera resumida, todos los beneficios buscados en la utilización de CI COTS se pierden al intentar calificarlos con métodos y herramientas pensados para calificar CI de niveles mayores de calidad. Los procesos de decapado hasta el momento no escapan a esta regla.

El gran desafío actual es adaptar los métodos existentes al contexto de los COTS pero manteniendo un nivel de confiabilidad y seguridad perfectamente medible tanto en el proceso de calificación como en la utilización de los COTS.

Este trabajo presenta  un nuevo y versátil procedimiento, junto con sus herramientas asociadas, diseñado y concebido para decapar CI COTS. El método se basa en una combinación novedosa entre procedimientos químicos, mecánicos y electrónicos. Se puede describir mediante un lazo cerrado de control que permite poner a punto el decapado de una manera adaptiva y automática.

Los resultados preliminares muestran que el método de desencapsulado presentado permite obtener CI COTS en condiciones aptas para ser utilizados en los ensayos posteriores de radiación ionizante.